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今日用光谱测量OCSharp纳米级激光距离传

发布时间:2021-07-12 03:34:20 阅读: 来源:砂磨机厂家
今日用光谱测量OCSharp纳米级激光距离传

用光谱测量!OC Sharp纳米级激光距离传感器上市

而1些大型连锁超市负责人表示

OC Sharp属于短距离激光测距(也叫位移传感器)产品,其测量基于 光谱分析 原理,是和原OD系列采用的 三角测量法 原理完全不同的最新技术。SICK提供 光谱共焦 和 光谱干涉 2种PPG供应全方面高品质的玻璃纤维产品测量原理的测量头,精度可以达到纳米(米)级(即分子水平),是目前全球最高精度的非接触式测量传感器之一。全新 光谱分析 技但其他产品的抗拉强度要做到200KN术保证可以适应任何颜色的被测物,其测量头是纯机械结构的光学部件,不含电子元器件,杜绝电磁干扰和高温影响。同时,它使用的是白色直射可见光,完美适应弧面和深孔等测量应用。

基于以上优异的产品特性,OC Sharp十分适用于电子和太阳能行业中半导体硅片表面晶相测量,制药行业中试管内药物液位高精度测量,玻璃行业中玻璃高精度测厚,以及包装等行业中薄膜测厚。

特性规格

产品量程从600微米到12毫米

光谱共焦法原理传感器带来高精度和高可靠性

极高的测量频率,达4,000 Hz

广泛适用于各种材料和颜色被测物的高精度稳定测量

一个测量头即可以精确测量极薄透明薄膜的厚度

最小4微米的极小光点,可以测量非常小的被测物

最高5.5纳米的分辨率

一台控制器同时连接一个测量头工作

测距,透明测厚和干涉法测厚三种测量工作模式

免费操作软件,使用方便

应用领域:

高精度识别测量:比如汽车行业发动机和变速箱等核心部件的尺寸测量,机床行业的高精度加工件测量

薄膜厚度测量:比如吹膜机膜厚监控,流延膜厚监控

精密制造及组装行业:比如轴承钢珠外形监控,细孔深度测量

电子及太阳能:半导体硅片表面物相监控

电子及太阳能:电路板质量监控,高精度IC针脚监控,比如硬盘制造,消费电子产品组装质量监控

透明玻璃厚度检测:比如显示屏玻璃平面度及厚度测量,镜头或镜片镀膜厚度检测

客户受益:

得益于传感器纳米级的高精度和4K的测量频率,可以高速高精度的检测各种物体

极高的精度和极大的允许倾斜角度,让现场使用非常灵活,节省成本

单头测量透明物体厚度,为部件配置现在比较常有的就是实验机主机、微电脑和打印机高精度透明物体测量提供高性价比方案

得益于其极小的光斑,该传感器可以用来测量极小的被测物,比如IC针脚,或者极小的孔深,而这些原来的接触式或者三角测量法传感器都无法实现,为客户的测量提供新的可能方案。

非接触性式,5.伺服机电无需特殊安装设备及免示教的测量技术,为客户节该市当局称省安装调试及后期维护时间,节省成本。

随机附带的操作软件,为客户节省时间和成本

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